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儀器名稱
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掃描式電子顯微鏡(SEM)
HITACHI / FE-SEM S-4800
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用途
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透過電子散佈在樣品表面，可突破可見光能觀測的極限，觀測樣品表面形貌。
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儀器規格
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- 加速電壓：0.5~30kV
- 放大倍率：20~500,000 X
- 可觀察範圍：x:0~25mm；y:0~25mm；z:5~30mm
- 傾斜：-5~45度；旋轉:360度
- 試片大小限制：直徑2吋以內
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注意事項
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- 只有已通過訓練及檢定之使用者允許操作本儀器。
- 不可進腔體的樣品種類：易揮發物質；磁性物質。
- 粉體物質需先聯絡中心報備後始可觀測。
- 若樣品為非導體，建議先在表面鍍導電性佳的材料(使用一旁的鍍金機)再觀察。
- 不可使用USB，以免造成電腦中毒。存取檔案請使用光碟燒錄。
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使用手冊
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手冊_掃描式電子顯微鏡
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儀器課程名稱
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